电容测量的5个常见问题,你都能答对吗?请自测~
电容的测量Q1问:如何正确测量电容容量和耗散因子?答:正确测量的关键在于电表设置。
详见表 1。
电压设置对于高电容容量的电容而言至关重要。
对于某些电容表,如果施加到测试元件的电压不够,电容容量读数就会很低。
频率设置也很重要。
由于电容容量随频率的变化而变化,因此行业标准将测试频率指定为 1MHz、1kHz 或 120Hz(请参见表 1)。
辨别 EIA II 类电容的老化现象同样重要。
对于 II 类材料,电容容量会随时间而减小。
因此,一项广为接受的行业惯例规定,在最后一次加热(TOLH)后 1000 小时内,电容容量应处于容差范围内。
Q2问:为什么需要根据电容容量范围在不同的测试频率 / 电压下测量电容容量?答:仪表的频率设置取决于元件的寄生特性。
为了更准确地读取元件数值,测量频率应偏离元件的自谐振频率(SRF)。
行业用户会根据电容值在不同的频率点设置标准(请参见表 1)。
超过 10uF 的电容值被视为属于钽电容的范围。
因此,随着陶瓷电容容量范围开始扩大并覆盖了钽电容的范围,业界将用于钽电容测量的频率标准应用于陶瓷电容中。
施加的电压还取决于电容的电容容量。
通常,针对 10uF 及以下电容值施加的电压为 1.0±0.2 Vrms。
但当电容值超过 10uF 时,施加的电压为 0.5±0.1 Vrms。
高电容容量电容的阻抗非常低,因此要提供充足的电流以进行测量,电源需要的电流还要大于 1.0±0.2 Vrms 时的电流。
通过降低施加的电压,电源就能提供充足的电流以准确测量高电容容量的电容。
Q3问:电容容量的 Cp 和 Cs 有什么区别?答:阻抗分析仪可以采用并联(称为 Cp)或串联(称为 Cs)的方式来测量电容容量。
电路模型将取决于电容的电容值(参见图 1)。
当 C 较小且阻抗较高时,C 和 Rp 之间的并联阻抗将明显高于 Rs。
因此,用于测量电容容量的仪表设置应为 Cp。
当 C 较大而阻抗较小时,C 和 Rp 的并联阻抗就不是很明显了。
因此,应将 Cs 用作电表设置来测量电容容量。
选择阻抗设置的一个经验法则是,当电容阻抗值大于 10kΩ时,使用 Cp;当电容阻抗值小于 10Ω时,使用 Cs。
Q4问:如何准确测量品质因子(Q)?答:品质因子用于衡量电容在理论上起到纯电容作用的程度。
它是耗散因子(DF)的倒数。
通常,当电容容量≦330pF、DF>330pF 时才会报告 Q 值。
借助使用(与特定电容容量范围相对应的)精确电感线圈的 Q 表可以获得准确的 Q 值。
通常需要多个线圈才能在 0.5~330pF 的范围内进行充分测量。
对于大于 330pF 的电容,可以取损耗因子的倒数来计算品质因子(请参见公式 1)。
Q5问:什么是电容允受的纹波电流?答:为响应电容中出现的电压波动,充电电流或放电电流会充入或离开电容。
此时进入或离开电容的电流称为纹波电流。
该电流通常以有效值表示,因为从原理上说它并不是直流电。
电容会随着纹波电流产生热量,因此必须设置一个上限,而该上限的值就是所谓允受的纹波电流。