薄膜电容器它是一种使用频率较高的电子元器件，薄膜电容器被广泛的应用在模拟信号的交连及其他开关电源处。

薄膜电容器具备很多不错的特性，是一款非常出色的电容器产品。

电容器无效电容器击穿、开路、引线出现断裂、绝缘层裂开等都会让薄膜电容器彻底丧失工作能力，这些失效就属于致命性失效，其它一些失效会使薄膜电容器不可以满足使用的需求，并慢慢走向致命失效。

薄膜电容器在工作应力与环境应力的综合作用下，薄膜电容器在工作一段时间后，会各自或同时造成一些失效模式。

同一失效模式有多种失效机理，同一失效机理又可造成多种失效模式。

失效模式与失效机理之间的关联并不是一一对应的。

薄膜电容器失效的原因当薄膜电容器用在二极管吸收电源电路时，电容的额定电压630VDC，电源电路中正常尖峰低于200V，可以满足降额的要求。

失效电容器外型优良，无有毁坏痕迹，可以用LCR长检测，失效薄膜电容器都没有容量，引脚间呈开路情况解开电容器塑料封裝，引线和喷金层焊接优良，喷金层与芯子连接位置有变黑痕迹;进行电容器芯子金属化膜，一部分失效的薄膜电容器金属化膜明亮且完好无损，其次。

一部分金属化膜早已发热变形。

我们可以初步判断为电源电路dv/dt过人造成薄膜电容器失效。

检测电源电路中的电压波形，发现dv/dt为3000V/us，但采用的薄膜电容器dv/dt最高值仅仅只有40V/μs。

为了验证电容器的失效模式，取一批新的薄膜电容器，初测一切正常，上机进行老化后，薄膜电容器80-90%无效，我们可以确定不是薄膜电容器生产厂家的质量问题，也可以确定薄膜电容器不宜在该电源电路中使用。

解决方法全部单板(包含半成品、成品及出厂的产品》此部位使用的薄膜电容器，全部拆换为dv/dt的双面金属化聚丙稀山容器后就可以解决薄膜电容器失效的问题。

针对薄膜电容器，我们在选择吸收电容除了电压和容量外，最关键的指标值还有dv/dt和纹波电流(电压)。

尤其是dv/dt这个参数，就算是容量和电压一样，系列不一样、引脚间距不一样的电容，它的额定值也可以从几V/us到几KV/us。

假如仅从电压和容量指标挑选薄膜电容器，薄膜电容器在使用一段时间后便会容值衰减甚至是完全消失。

此外还会因为功率器件开关频率太高(最高可到上百KHz)，高频下小的电压起伏便会造成过人纹波电流(I=WCU)，过人的纹波电流就会造成心容温度升高、从而导致薄膜电容器损坏。

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